星云手機數碼鋰電池組保護板測試系統BAT-NEDQ-04-V010
特點
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測試精度高， 測試速度快 |
模塊化設計，便于維修更換 |
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兼容Gas Gauge IC種類多，適用的IC包含美國TI公司系列管理IC（如: BQ27742 、BQ277410 、BQ28z610、 BQ27541、BQ 27545、BQ2753X系列管理IC） |
測試項目全，實現一站式測試 |
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測試精度高， 測試速度快 |
菜單式軟件編程，操作方便 |
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規格
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型號 |
BAT-NEDQ04-V010 |
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指標 |
范圍 |
精度 |
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模擬電池輸出電壓 |
5~5000mV |
±0.2mV |
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模擬電池輸出電流 |
0~3000mA |
±（0.01%R.D.+0.05%F.S.） |
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充電器輸出/測量電壓 |
100-~5000mV |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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5000~10000mV |
±（0.01%R.D.+0.02%F.S.） |
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充電器輸出/測量電流 |
5~3000mA |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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模擬電池輸出電壓測量 |
50~1000mV |
±0.2mV |
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模擬電池電流測量（消耗電流測量） |
（mA檔）0~3000mA |
±0.01% R.D.+0.05%F.S. |
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（uA檔）1~2000uA |
±0.01% R.D.+1uA |
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（nA檔）1~1000nA |
±0.01%R.D. +5nA |
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PACK電壓測量 |
0~10000mV |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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測試項目 |
管理IC通訊測試、HDQ/Battery 電壓測試、空載/帶載電壓測試、靜態消耗電流測試、導通/識別/熱敏電阻測試、PACK過壓1過放測試、單節電池過壓/過放測試、充/放電過溫保護測試、充/放電過流1保護測試、充/放電過流2保護測試、短路保護測試、失效性保護測試、欠壓/低溫預充測試、GAS GAUGE IC過壓二次保護測試、二次保護IC保護測試、電容測量（純電容）、零歐電阻測量 |
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